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無錫恒溫恒濕試驗箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度、濕度條件。主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件，以及其它材料在高溫、濕度、低溫綜合環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。用于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。
無錫恒溫恒濕試驗箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
內(nèi)箱材質(zhì)：不銹鋼板 ( SUS # 304 )
外體材質(zhì)：冷軋鋼板，酸洗磷化表面靜電噴塑，防銹防腐
照明：高亮度冷光源照明燈
觀察窗：多層中空鍍膜玻璃
窗口防結(jié)露設(shè)計：采用電伴熱裝置，防止水氣凝結(jié)
測試孔：可外接測試電源線及信號用 ( φ50 )
移動腳輪：腳輪移動調(diào)整擺放位置與專用螺栓固定位置
保溫層：保溫絕緣層耐燃防火PU＋隔熱玻璃棉(保溫層厚 100mm)
箱門：采用凹凸門結(jié)構(gòu)，雙點鎖緊，有效密封
箱門防結(jié)露：采用電伴熱裝置，防止水氣凝結(jié)
控制柜：在箱體的右側(cè)
無錫恒溫恒濕試驗箱技術(shù)參數(shù)：
| 產(chǎn)品型號 | ?KSD-TH-80L | ?KSD-TH-150L | ?KSD-TH-225L | ?KSD-TH-408L | ?KSD-TH-800L | ?KSD-TH-1000L | |
| 內(nèi)部尺寸W×H×D(cm) | ?40×50×40 | ?50×60×50 | ?50×75×60 | ?60×85×80 | ?100×100×80 | ?100×100×100 | |
| 外部尺寸W×H×D(cm) | ?97×136×97 | ?107×146×107 | ?107×161×117 | ?117×171×127 | ?155×185×130 | ?155×185×147 | |
| 性能 | ?控制方式 | ?平衡調(diào)溫調(diào)濕方式(BTHC)PID智能調(diào)節(jié) | |||||
| ?溫度范圍 | ?0℃～150℃,-20℃～150℃,-40℃～150℃,-60℃～150℃,-70℃～150℃ | ||||||
| ?濕度范圍 | ?20%～98%RH | ||||||
| ?溫濕度均勻度 | ?±2℃,±3%RH | ||||||
| ?溫濕度波動度 | ?±0.3℃,±2.5%RH | ||||||
| ?升溫速率 | ?≥3℃/min | ||||||
| ?降溫速率 | ?≥1℃/min | ||||||
| 材質(zhì) | ?內(nèi)箱材質(zhì) | ?SUS304光亮不銹鋼板 | |||||
| ?外箱材質(zhì) | ?SUS304拉絲不銹鋼板或防銹處理冷扎鋼板 | ||||||
| ?保溫材質(zhì) | ?超細(xì)玻璃棉+聚胺脂泡沫 | ||||||
| 調(diào)節(jié)器 | ?制冷機 | ?法國泰康(或半封閉德國谷輪)壓縮機 | |||||
| ?制冷劑 | ?R23/R404A | ||||||
| ?冷凝方式 | ?風(fēng)冷 | ||||||
| ?加熱器 | ?鎳鉻合金不銹管加熱器 | ||||||
| ?氣流方式 | ?寬帶式強迫氣流循環(huán)(上出下進) | ||||||
| 控制器 | ?操作界面 | ?液晶觸摸顯示屏,中英文切換(韓國TEMI880) | |||||
| ?運轉(zhuǎn)方式 | ?恒定運轉(zhuǎn),程序運轉(zhuǎn) | ||||||
| ?程序記憶容量 | ?120組可編程序,每個程序999段 | ||||||
| ?分辯率 | ?溫度:0.1℃;濕度:0.1%RH | ||||||
| ?通訊功能 | ?RS-232接口 | ||||||
| ?附屬功能 | ?上下限報警,自診斷,報警顯示(故障原因),定時裝置(自動開關(guān)機) | ||||||
| ?標(biāo) 準(zhǔn) 配 置 | ?觀察窗1個,測試孔1個,樣品架2層,熒光燈一個,供水箱1個 | ||||||
| ?安 全 裝 置 | ?無熔絲開關(guān),防干燒裝置,水系統(tǒng)保護裝置,極限高低溫保護,溫度偏差報警,超壓,過載,缺水,缺相等保護 | ||||||
| ?電 源 配 置 | ?220V/380V 60/50Hz | ||||||
無錫恒溫恒濕試驗箱國家標(biāo)準(zhǔn)
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備》GB 5170.18-2005
《溫度濕度組合循環(huán)試驗》GBT2423[1].34-2005
《濕熱試驗箱技術(shù)條件》GBT 10586-2006
《高溫試驗箱技術(shù)條件》GB 11158-2008
《低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10592-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A: 低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》GBT 2423.2-2008
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